( Home page )

KONRAD HEJN

Konrad Hejn

Specjalista w dziedzinach: ● metrologia, ● kwantyzacja, ● przetwarzanie analogowo-cyfrowe, ● systemy pomiarowe VXI/SCPI.

Urodzony 27 czerwca 1943 roku w Warszawie. Kilka miesięcy później, brał bierny udział w zamachu na generała Kutscherę. Żyje tylko dlatego, że jego matka wyskoczyła pod Jędrzejowem z jadącego do Oświęcimia pociągu, który w wagonach towarowych wiózł ludzi wysiedlonych z Warszawy po upadku Powstania.

Szkołę podstawową i Liceum im. Mikołaja Kopernika ukończył w Łodzi. Dyplom magistra inżyniera automatyki uzyskał w roku 1966 na Wydziale Łączności Politechniki Warszawskiej (PW). Praca magisterska była poświęcona optymalnemu sterowaniu nieliniowym serwomechanizmem. Stopień doktora nauk technicznych, uzyskał za rozprawę pt. "Zastosowanie metody Monte Carlo do teorii pewnej klasy przetworników cyfrowo-analogowych" (1976), a — doktora habilitowanego, za monografię pt. "Wybrane zagadnienia metrologii współczesnych przetworników analogowo-cyfrowych" (1999) na Wydziale Elektroniki i Technik Informacyjnych PW.

W roku 1967 rozpoczął pracę nauczyciela akademickiego w Zakładzie Miernictwa, kierowanym przez prof. Mariana Łapińskiego. Późniejsze zmiany organizacyjne “przeniosły go" wraz z częścią pracowników Zakładu do Instytutu Podstaw Elektroniki, w którym powstał Zakład Miernictwa i Optoelektroniki (1987), kierowany przez prof. Jerzego Helsztyńskiego. W tym Zakładzie pracuje do chwili obecnej. W roku 1998 Instytut Podstaw Elektroniki PW zmienił nazwę na Instytut Systemów Elektronicznych, a nowym kierownikiem Zakładu został prof. Ryszard Jachowicz.

W latach 1987-1995 kilkakrotnie odbywał staże naukowe w Wielkiej Brytanii, najpierw w Polytechnic of Central London, następnie w Centre for Microelectronic System Applications, a w końcu w University of Westminster.

Pierwszym Jego osiągnięciem technicznym był układ z półprzewodnikowym czujnikiem do pomiaru ciśnienia hydrostatycznego zapewniający kompensację temperaturową w warunkach dynamicznych. Układ ten został opatentowany.

Pierwszym samodzielnie skonstruowanym cyfrowym przyrządem pomiarowym był automatyczny mostek do pomiaru parametrów immitancji. Od tego czasu prowadzone przez niego badania naukowe koncentrują się na przetwarzaniu analogowo-cyfrowym, a zwłaszcza na operacji kwantowania. Do prowadzenia tych badań zainspirował go prof. Krzysztof Badźmirowski, który był promotorem Jego pracy doktorskiej.

W roku 1976 został kierownikiem Pracowni Systemów Pomiarowych. Na przełomie lat siedemdziesiątych i osiemdziesiątych XX-wieku, był wykonawcą wielu projektów zamawianych przez polski przemysł elektroniczny, m.in. ● testera diod Zenera, ● generatora dowolnych sygnałów, ● 1 GHz digitajzera i ● systemu akwizycji danych hydrologicznych.

Istotny postęp w Jego rozwoju naukowym nastąpił w roku 1987 po nawiązaniu współpracy z prof. G. Cainem, który był w tym czasie szefem Centre of Microelectronic Systems Applications i jednocześnie kierownikiem jednej z bardziej dynamicznych grup w Wielkiej Brytanii zajmujących się cyfrowym przetwarzaniem sygnałów. W latach 1991,1993 i 1995, jako profesor wizytujący, Konrad Hejn był zaangażowany w projekty dotyczące technologii algorytmów. W tym czasie korzystał z nowoczesnych narzędzi do automatycznej syntezy układów VLSI. Zdobyte przy tym doświadczenia, a także zakończone sukcesem starania o środki finansowe z Unii Europejskiej, pozwoliły mu na zorganizowanie podobnego laboratorium w Instytucie Podstaw Elektroniki PW.

Obecnie, tematyka Jego badań jest związana z teorią, symulacją i pomiarową weryfikacją współczesnych przetworników analogowo-cyfrowych. Najnowszymi znaczącymi Jego osiągnięciami są: ● dokładna, analityczna metoda pomiaru efektywnej rozdzielczości, ● współbieżna korekcja błędu wzmocnienia oraz ● efektywny decymator do badań modulatorów delta-sigma. Oryginalna konstrukcja decymatora została opatentowana.

Jest autorem lub współautorem ponad 60 publikacji naukowych, w tym 2 monografii i artykułów w takich czasopismach jak “IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement", “Computer Standards and Interfaces" i “Measurement".

Za osiągnięcia badawcze był wyróżniany tytułem Mistrza Techniki, nagrodami Ministra Nauki, Szkolnictwa Wyższego i Techniki oraz wielokrotnie nagrodami Rektora Politechniki Warszawskiej.

Jest członkiem założycielem European Project for ADC-based Devices Standardization, członkiem korespondentem IEEE, TC-10 oraz wieloletnim członkiem Komitetu Metrologii PAN.

Uczestniczył czynnie w ponad 40 konferencjach naukowych, brał udział w organizowaniu konferencji międzynarodowych, jest recenzentem kilkunastu wydawnictw krajowych i zagranicznych oraz członkiem komitetu redakcyjnego czasopisma “Computer Standards and Interfaces".

Działalność dydaktyczna prowadzona przez niego dotyczy różnych aspektów konstrukcji aparatury pomiarowej. Na Politechnice Warszawskiej prowadzi wykłady pt.: “Systemy pomiarowe", “Przetwarzanie analogowo-cyfrowe", “Pomiary w systemach VXI" oraz zajęcia laboratoryjne do przedmiotu “Top-Down Design of Electronic Systems" w Westminster University (z przerwami w latach 1991-1995). Kierował również wieloma pracami dyplomowymi na wszystkich poziomach studiów, zarówno na Politechnice Warszawskiej, jak i w Westminster University. Obecnie ma pod opieką kilku doktorantów.

Uczestniczył lub nadal uczestniczy w pracach komisji dziekańskich i komisji Rady Wydziału, m.in. ds. kształcenia, ds. programów nauczania oraz ds. studiów w języku angielskim.

Jest żonaty, ma dwoje dorosłych dzieci. Jego hobby są: narty, tenis, długie spacery po lesie oraz spotkania towarzyskie przy grillu.


    Zaczerpnięto z pracy:
    Pod red. J.S. Bobera i R. Z. Morawskiego: "Profesorowie i docenci Wydziału Elektroniki i Technik Informacyjnych Politechniki Warszawskiej 1951-2001". Oficyna Wyd. PW, Warszawa 2001. ISBN 83-914580-3-2.

( Home page )